Диод
Схема замещения полупроводникового диода (рис. 4.1) состоит из идеального диода, изображенного в виде нелинейного зависимого источника тока I(V), емкости p–n-перехода C и объемного сопротивления RS [1, 33]. Параметры математической модели диода (см. разд. 3.2.6) приведены в табл. 4.1.
Таблица 4.1
| Имя параметра
|
| Параметр
|
| Значение по умолчанию
|
| Единица измерения
|
|
| IS
|
| Ток насыщения при температуре 27С
|
| 10
|
| А
|
|
| RS
|
| Объемное сопротивление
|
| 0
|
| Ом
|
|
| N
|
| Коэффициент инжекции
|
| 1
|
|
|
|
| ISR
|
| Параметр тока рекомбинации
|
| 0
|
| А
|
|
| NR
|
| Коэффициент эмиссии для тока ISR
|
| 2
|
|
|
|
| IKF
|
| Предельный ток при высоком уровне инжекции
|
|
|
| А
|
|
| TT
|
| Время переноса заряда
|
| 0
|
| с
|
|
| CJO
|
| Барьерная емкость при нулевом смещении
|
| 0
|
| Ф
|
|
| VJ
|
| Контактная разность потенциалов
|
| 1
|
| В
|
|
| M
|
| Коэффициент лавинного умножения
|
| 0,5
|
|
|
|
| EG
|
| Ширина запрещенной зоны
|
| 1,11
|
| эВ
|
|
| FC
|
| Коэффициент нелинейности барьерной емкости прямосмещенного перехода
|
| 0,5
|
|
|
|
| BV
|
| Обратное напряжение пробоя (положительная величина)
|
|
|
| В
|
|
| IBV
|
| Начальный ток пробоя, соответствующий напряжению BV (положительная величина)
|
| 10
|
| А
|
|
| NBV
|
| Коэффициент неидеальности на участке пробоя
|
| 1
|
|
|
|
| IBVL
|
| Начальный ток пробоя низкого уровня
|
| 0
|
| А
|
|
| NBVL
|
| Коэффициент неидеальности на участке пробоя низкого уровня
|
| 1
|
|
|
|
| XTI
|
| Температурный коэффициент тока насыщения
|
| 3
|
|
|
|
| TIKF
|
| Линейный температурный коэффициент IKF
|
| 0
|
| C
|
|
| TBV1
|
| Линейный температурный коэффициент BV
|
| 0
|
| C
|
|
| TBV2
|
| Квадратичный температурный коэффициент BV
|
| 0
|
| C
|
|
| TRS1
|
| Линейный температурный коэффициент RS
|
| 0
|
| C
|
|
| TRS2
|
| Квадратичный температурный коэффициент RS
|
| 0
|
| C
|
|
| KF
|
| Коэффициент фликкер-шума
|
| 0
|
|
|
|
| AF
|
| Показатель степени в формуле фликкер-шума
|
| 1
|
|
|
|
| T_MEASURD
|
| Температура измерений
|
|
|
| C
|
|
| T_ABS
|
| Абсолютная температура
|
|
|
| C
|
|
| T_REL_GLOBAL
|
| Относительная температура
|
|
|
| C
|
|
| T_REL_LOCL
|
| Разность между температурой диода и модели-прототипа
|
|
|
| C
|
|
<
Рис. 4.2. ВАХ идеального диода
|
Рис. 4.1. Нелинейная модель полупроводникового диода |
Вольт-амперные характеристики диода. Ток диода представляется в виде разности токов
Зависимость
аппроксимирует ВАХ диода при положительном напряжении на переходе V. Здесь
– нормальная составляющая тока;
– ток рекомбинации;
– коэффициент инжекции
– коэффициент генерации.
Ток диода при отрицательном напряжении на переходе
характеризует явление пробоя. Он имеет две составляющие
где
– температурный потенциал перехода (0,026 В при номинальной температуре 27
C);
Дж/
C – постоянная Больцмана;
Кл – заряд электрона; T
– абсолютная температура p–n-перехода. Вид ВАХ диода показан на рис. 4.2.
Емкость перехода C
равна
где
– диффузионная емкость перехода,
– барьерная емкость перехода,
- дифференциальная проводимость перехода для текущих значений I и V.
Линеаризованная схема замещения диода. Схема приведена на рис. 4.3, а. Ее можно дополнить источниками шумовых токов, как показано на рис. 4.3, б. В диоде имеются следующие источники шума: объемное сопротивление RS, характеризующееся тепловым током
со спектральной плотностью
; дробовой и фликкер-шум диода, характеризующийся током
со спектральной плотностью
, где f
– текущая частота.
Рис. 4.3. Линеаризованная схема замещения диода (а) с включением источников внутреннего шума (б)
|
Температурные зависимости параметров. В математической модели диода они учитываются следующим образом:
IS(T) = IS·exp{EG(T)/[N·Vt(T)]T/Tnom–1)}(T/Tnom)
;
ISR(T)=ISR·exp{EG(T)/[N·Vt(T)](T/Tnom–1)}(T/Tnom)
;
IKF(T)=IKF [1+TIKF (T–Tnom)];
BV(T)=BV [1+TBV1(T–Tnom)+TBV2(T–Tnom)
];
RS(T)=RS [1+TRS1(T–Tnom)+TRS2(T–Tnom)
];
VJ(T) = VJ·T/Tnom–3Vt(T)ln(T/Tnom) –EG(Tnom)T/Tnom+EG(T);
CJO(T)= CJO{1+M[0,0004 (T–Tnom)+1–VJ(T)/VJ]};
KF(T) = KF·VJ(T)/VJ, AF(T) = AF·VJ(T)/VJ;
EG(T) = EGo –
aT
/(b + T),
где EG(Tnom) - ширина запрещенной зоны при номинальной температуре (1,11 эВ для кремния; 0,67 эВ для германия; 0,69 эВ для диодов с барьером Шотки при температуре 27
С). Значения параметров IS, Vt, VJ, CJO, KF, AF, EG берутся для номинальной температуры Tnom; для кремния EGo=1,16 эВ, а=0,000702, b=1108; XTI=3 для диодов с p–n-переходом и XTI=2 для диодов с барьером Шотки. Значение номинальной температуры Tnom устанавливается с помощью опции TNOM (по умолчанию Tnom=27
C).
Приведенные выше выражения описывают диоды с p–n-переходом, включая и стабилитроны. Диоды с барьером Шотки также характеризуются этими зависимостями, но они обладают пренебрежимо малым временем переноса TT~0 и более чем на два порядка большими значениями тока диода I
[33]. При этом ток насыщения определяется зависимостью IS = = K·T·exp(-
/Vt), где K – эмпирическая константа;
– высота барьера Шотки.
Скалярный множитель Area. Указываемый при включении диода в схему (разд. 3.2.6), он позволяет в программе PSpice определить эквивалентный диод, характеризующий параллельное включение нескольких одинаковых приборов или прибор, занимающий большую площадь. С его помощью изменяются значения параметров IS, IRS, IBV, IBVL, RS и CJO
IS=IS·Area, ISR=ISR·Area, IBV=IBV·Area, IBVL=IBVL·Area, RS=RS/Area, CJO=CJO·Area.
По умолчанию скалярный множитель Area=1.
В качестве
примера приведем описание параметров модели диода Д104А
.model D104A D (IS=5.81e-12 RS=8.1 N=1.15 TT=8.28nS
+ CJO=41.2pF VJ=0.71 M=0.33 FC=0.5 EG=1.11 XTI=3)