Полевой транзистор
Полевые транзисторы с управляющим p–n переходом (Junction FET) описываются моделью Шихмана–Ходжеса в соответствии с эквивалентной схемой, представленной на рис. 4.6,а для транзистора с каналом n-типа [4, 7, 33]. Параметры модели полевого транзистора приведены в табл. 4.3.
Таблица 4.3
| Имя параметра
|
| Параметр
|
| Значение по умолчанию
|
| Единица измерения
|
|
| VT0
|
| Пороговое напряжение
|
| –2
|
| В
|
|
| BETA
|
| Коэффициент пропорциональности
|
| 10
|
| А/В
|
|
| LAMBDA
|
| Параметр модуляции длины канала
|
| 0
|
| 1/В
|
|
| IS
|
| Ток насыщения p–n-перехода затвор–канал
|
| 10
|
| А
|
|
| N
|
| Коэффициент неидеальности p–n-перехода затвор–канал
|
| 1
|
|
|
|
| ISR
|
| Параметр тока рекомбинации p–n- перехода затвор–канал
|
| 0
|
| А
|
|
| NR
|
| Коэффициент эмиссии для тока ISR
|
| 2
|
|
|
|
| ALPHA
|
| Коэффициент ионизации
|
| 0
|
| В
|
|
| VK
|
| Напряжение ионизации для перехода затвор–канал
|
| 0
|
| В
|
|
| RD
|
| Объемное сопротивление области стока
|
| 0
|
| Ом
|
|
| RS
|
| Объемное сопротивление области истока
|
| 0
|
| Ом
|
|
| CGD
|
| Емкость перехода затвор–сток при нулевом смещении
|
| 0
|
| Ф
|
|
| CGS
|
| Емкость перехода затвор-исток при нулевом смещении
|
| 0
|
| Ф
|
|
| M
|
| Коэффициент лавинного умножения обедненного p–n-перехода затвор–канал
|
| 0,5
|
|
|
|
| FC
|
| Коэффициент нелинейности емкостей переходов при прямом смещении
|
| 0,5
|
|
|
|
| PB
|
| Контактная разность потенциалов p–n-перехода затвора
|
| 1
|
| В
|
|
| VTOTC
|
| Температурный коэффициент VTO
|
| 0
|
| В/
|
|
| BETATCE
|
| Температурный коэффициент BETA
|
| 0
|
| %/
|
|
| XTI
|
| Температурный коэффициент тока IS
|
| 3
|
|
|
|
| KF
|
| Коэффициент, определяющий спектральную плотность фликкер–шума
|
| 0
|
|
|
|
| AF
|
| Показатель степени, определяющий зависимость спектральной плотности фликкер–шума от тока через переход
|
| 1
|
|
|
|
| T_MEASURED
|
| Температура измерений
|
|
|
|
|
|
| T_ABS
|
| Абсолютная температура
|
|
|
|
|
|
| T_REL_GLOBAL
|
| Относительная температура
|
|
|
|
|
|
| T_REL_LOCAL
|
| Разность между температурой транзистора и модели-прототипа
|
|
|
|
|
|
<
Статические характеристики полевого транзистора. Они описываются следующими зависимостями.
Ток затвора равен
Ig = Igs + Igd,
где Igs = In+IrKg
– ток утечки затвор–исток,
Ins = IS·[exp(Vgs/(N·Vt) –1] – нормальный ток,
Irg = ISR· [exp(Vgs/(NR·Vt) –1] – ток рекомбинации,
Kgs = [(1–Vsg/PB)2+0,005]M/2 – фактор генерации,
Igd = Ind+Ird·Kgd+Ii – ток утечки затвор–сток,
Ind = IS· [exp(Vgd/(N·Vt) –1] – нормальный ток,
Ird = ISR· [exp(Vgd/(NR·Vt)-1] – ток рекомбинации,
Kgd = [(1–Vgd/PB)2+0,005]M/2 – фактор генерации,
Ii - ток ионизации, равный
Рис. 4.6. Нелинейная (а) и линейная (б) схемы замещения полевого транзистора с управляющим p–n-переходом и каналом n-типа |
Vdif=Vds– (Vgs–VTO); Vgs – напряжение затвор–исток, Vgd – напряжение затвор-сток.
Заметим, что полевой транзистор обедненного типа характеризуется отрицательными значениями VTO<0 (для каналов p- и n-типа), а транзистор обогащенного типа – положительными VTO
0.
Токи стока и истока равны соответственно
Id = Idrain – Igd, Is = – Idrain
–Igs.
В нормальном режиме (Vds
0) ток Idrain
рассчитывается по формулам:
где Vds – напряжение сток–исток, Vgd – напряжение затвор–сток. В инверсном режиме (Vds<0)
Емкости затвор–
исток и затвор–
сток описываются выражениями
Линейная схема замещения полевого транзистора. Схема приведена на рис. 4.6, б, где дополнительно включены источники флюктуационных токов. Тепловые шумы, создаваемые резисторами RS и RD, имеют спектральные плотности S
= 4kT/RS, S
= 4kT/RD.
Источник тока Iш
, характеризующий дробовой и фликкер-шум, имеет спектральную плотность S
= 8kT·Gm/3 + KF·Id
/f, где Gm= dIdrain/dVgs –дифференциальная проводимость в рабочей точке по постоянному току.
Температурные эффекты характеризуются следующими зависимостями:
VTO(T)=VTO+VTOTC· (T – Tnom);
BETA(T)=BETA·1,01
;
IS(T)=IS·exp[EG(Tnom)/(N·Vt) ·(T/Tnom – 1)](T/Tnom)
;
ISR(T)=ISR·exp[EG(Tnom)/(NR·Vt) ·(T/Tnom–1)](T/Tnom)
;
PB(T)=PB·T/Tnom-3Vt·ln(T/Tnom) –EG(Tnom)·T/Tnom+EG(T);
CGS(T)=CGS{1+M[0,0004(T–Tnom)+1-PB(T)/PB]};
CGD(T)=CGD{1+M[0,0004 (T–Tnom)+1-PB(T)/PB]};
KF(T)=KF·PB(T)/PB, AF(T)=AF·PB(T)/PB.
Зависимость EG от температуры описана в разд. 4.1.
Скалярный коэффициент Area позволяет учесть параллельное соединение однотипных транзисторов, для чего в приведенной выше модели изменяются следующие параметры:
IS=IS·Area, BETA=BETA·Area, RD=RD/Area, RS=RS/Area, CGS=CGS·Area, CGD=CGD·Area.
Значение Area указывается в задании на моделирование при включении транзистора в схему (п. 3.2.6), по умолчанию Area=1.
В качестве
примера приведем описание параметров модели транзистора КП303Е
.model KP303E NJF (VTO=-4.12 BETA=782.5u LAMBDA=9.13m
+ RS=21 RD=21 CGS=4.2pF CGD=3.8pF FC=0.5 PB=1 IS=10f)